韶關(guān)多功能SPI檢測設(shè)備

來源: 發(fā)布時間:2023-03-29

SPI即是SolderPasteInspection的簡稱,中文叫錫膏檢查,這種錫膏檢查機(jī)類似我們一般常見擺放于SMT爐后的AOI(AutoOpticalInspection)光學(xué)識別裝置,同樣利用光學(xué)影像來檢查品質(zhì)。它的工作原理:錫膏檢查機(jī)增加了錫膏測厚的雷射裝置,所以SPI可能遇到的問題與AOI類似,就是要先取一片拼板目檢,沒有問題后讓機(jī)器拍照當(dāng)成標(biāo)準(zhǔn)樣品,后面的板子就依照***片板子的影像及資料來作判斷,由于這樣會有很多的誤判率,所以需要不斷的修改其參數(shù),直到誤判率降低到一定范圍,因此并不是把SPI機(jī)器買回來就可以馬上使用,還需要有工程師維護(hù)。SPI錫膏檢測儀只能做表面的影像檢查,如果有被物體覆蓋住的區(qū)域設(shè)備是無法檢查到的。錫膏檢查機(jī)可以量測下列數(shù)據(jù):錫膏印刷量錫膏印刷的高度錫膏印刷的面積/體積錫膏印刷的平整度錫膏檢查機(jī)可以偵測出下列不良:錫膏印刷是否偏移(shift)錫膏印刷是否高度偏差(拉尖)錫膏印刷是否架橋(Bridge)錫膏印刷是否缺陷破損在SPI技術(shù)發(fā)展中,科學(xué)家們發(fā)現(xiàn)莫爾條紋光技術(shù)可以獲得更加穩(wěn)定的等間距。韶關(guān)多功能SPI檢測設(shè)備

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SPI為什么會逐漸取代人工目檢?現(xiàn)在的人工越來越貴,并且人員管理也越來越難,人工目檢還會出現(xiàn)漏檢或錯檢,因此在線SPI逐漸取代人工目檢,達(dá)到節(jié)約成本、提高生產(chǎn)效率、降低誤判率、提高直通率等等,在現(xiàn)代的EMS加工廠中,大量的SPI逐漸取代人工目檢,效率也更快。SPI檢測設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)1、解決了微型封裝器件的結(jié)構(gòu)性檢查問題,保證生產(chǎn)質(zhì)量;2、提高了后端測試的直通率,降低維修成本;3、隨著技術(shù)的發(fā)展,SPI測試程序快捷簡便,降低了生產(chǎn)所需的大量測試成本;SPI檢測設(shè)備的缺點(diǎn)1.灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方,比較容易出現(xiàn)誤判,2.被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn),比較容易出現(xiàn)漏檢人工目檢+SPI自動檢測結(jié)合是目前的主流方式,如果放置了SPI自動檢測儀,人工目檢人員崗可以設(shè)置較少人員隨著電子精密化趨勢發(fā)展,越來越多的使用了屏蔽罩,因此有實(shí)力的加工廠還會在多功能機(jī)前加一個爐前AOI,用來專門檢測屏蔽罩下的元件貼裝品質(zhì)。陽江全自動SPI檢測設(shè)備功能SPI檢測設(shè)備通常意義上來講是指錫膏檢測儀。

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那么SPI具體是如何檢測的呢?目前SPI領(lǐng)域中主要的檢查方法有激光檢査和條紋光檢查兩種。其中激光方法是用點(diǎn)激光實(shí)現(xiàn)的。由于點(diǎn)激光加CCD取像須有X、Y逐點(diǎn)擔(dān)的機(jī)構(gòu),并未明顯増加量測速度。為了增加量測速度,需將點(diǎn)激光改成掃描式線激光光線。這兩種是經(jīng)常用到的方法,此外還有360°輪廓測量理論、對映函數(shù)法測量原理( coordinate Mapping)、結(jié)構(gòu)光法( Structure Lighting)、雙鏡頭立體視覺法。但這些方法會受到速度的限制而無法被應(yīng)用到在線測試上,只適合單點(diǎn)的3D測量。

光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測物體反射的光線,光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷,轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集,傳輸形成電壓模擬信號二極管吸收光線強(qiáng)度不同時生成的模擬電壓大小不同,依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值,灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識別不同被檢測物體的目的光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種,因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同,CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝,并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器,電極所產(chǎn)生的電場推動電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。而CMOS采用了無機(jī)半導(dǎo)體加工工藝,每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路,每個像素都可以被定位,無需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì),而且其對圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片,因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多,價格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低。但其非常明顯的缺點(diǎn),作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多,靈敏度會有問題,為每個像素電子電路提供所需的額外空間不會作為光敏區(qū),域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片SPI的作用和檢測原理是什么?

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使用在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))的重要意義:再次,很多因素影響印刷工藝品質(zhì),例如:溫度、攪拌、壓力、速度、網(wǎng)板清洗時間等;并且單一的因素與印刷不良之間沒有明確的因果關(guān)系。所以必須使用在線型3D錫膏檢測機(jī),實(shí)時監(jiān)控印刷工藝,及時準(zhǔn)確地調(diào)整印刷機(jī)狀態(tài)。專業(yè)全自動在線型3D錫膏檢測機(jī)(3D-SPI)運(yùn)用了高精度3D條紋調(diào)制測量技術(shù)、或者是3D激光測量技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)高度方向上1um的測試精度。在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))在傳統(tǒng)SPI的2D檢測的基礎(chǔ)上,加入了對錫膏的高度、拉尖、體積的檢測,可以在SMT產(chǎn)線Cycle-time時間內(nèi),快速且精確的檢測錫膏印刷質(zhì)量。作為精密檢測設(shè)備,在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))不但可以檢測出錫膏印刷過程中的各種不良,更可以作為質(zhì)量控制工具,真實(shí)記錄錫膏印刷環(huán)節(jié)工程中錫膏質(zhì)量的微小變化。用SPI錫膏檢測機(jī)確認(rèn)錫膏印刷狀態(tài),并把收集到的狀態(tài)信息反饋給錫膏印刷機(jī),幫助工程師調(diào)節(jié)錫膏印刷參數(shù),實(shí)現(xiàn)提高錫膏印刷質(zhì)量、降低SMT工藝不良率的目的。在線3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))在SMT生產(chǎn)中的作用當(dāng)今元件PCB的復(fù)雜程度,己經(jīng)超越人眼所能識別的能力。SPI檢測設(shè)備表面處理

AOI檢測設(shè)備的作用有哪些呢?韶關(guān)多功能SPI檢測設(shè)備

結(jié)構(gòu)光柵型SPIPMP又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術(shù)是一種基于正弦條紋投影和位相測量的光學(xué)三維面形測量技術(shù)。通過獲取全場條紋的空間信息與一個條紋周期內(nèi)相移條紋的時序信息,來完成物體三維信息的重建。由于其具有全場性、速度快、高精度、自動化程度高等特點(diǎn),這種技術(shù)已在工業(yè)檢測、機(jī)器視覺、逆向工程等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。目前大部分的在線SPI設(shè)備都已經(jīng)升級到此種技術(shù)。但是它采用的離散相移技術(shù)要求有精確的正弦結(jié)構(gòu)光柵與精確的相移,在實(shí)際系統(tǒng)中不可避免地存在著光柵圖像的非正弦化,相移誤差與隨機(jī)誤差,它將導(dǎo)致計(jì)算位相和重建面形的誤差。雖然已經(jīng)出現(xiàn)了不少算法能降低線性相移誤差,但要解決相移過程中的隨機(jī)相移誤差問題,還存在一定的困難。韶關(guān)多功能SPI檢測設(shè)備

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