AOI檢測(cè)設(shè)備未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)

SMT中應(yīng)用的錫膏檢測(cè)技術(shù)的形式多種多樣，但其中AOI的基本原理是相同的，就是用光學(xué)原理獲取被測(cè)物品圖象，一般通過攝像機(jī)獲得檢測(cè)物的照明圖象然后數(shù)字化，再以某種方法進(jìn)行比較、分析、檢驗(yàn)和判斷，相當(dāng)于將人工目視檢測(cè)轉(zhuǎn)變?yōu)樽詣?dòng)化、智能化。AOI分析和判斷的算法可分為兩種，一種是設(shè)計(jì)規(guī)則檢驗(yàn)（矢量分析），一種是圖形識(shí)別檢驗(yàn)。矢量分析是按照固定的規(guī)則檢測(cè)圖形。一般是所有連線以焊點(diǎn)為端點(diǎn)，所有引線寬度、間隔不小于某一規(guī)定值等規(guī)則檢測(cè)PCB電路圖形。AOI在SMT貼片加工中的使用優(yōu)點(diǎn)。AOI檢測(cè)設(shè)備未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)

AOI檢測(cè)是制造業(yè)視覺檢測(cè)系統(tǒng)產(chǎn)業(yè)中視覺檢測(cè)設(shè)備的一部分。AOI檢測(cè)被普遍運(yùn)用于PCB印刷電路板、平板顯示器和半導(dǎo)體芯片等電子元器件領(lǐng)域，是現(xiàn)階段PCB印刷電路板和集成電路芯片生產(chǎn)過程中，至關(guān)重要的組成部分。一、AOI檢測(cè)的崛起和發(fā)展我國(guó)AOI檢測(cè)行業(yè)從20世紀(jì)80年代逐漸開始發(fā)展，迄今為止大概經(jīng)歷過四個(gè)階段：從1985年的空白期到現(xiàn)在的智能化系統(tǒng)，從人工目檢到3DAOI視覺檢測(cè)技術(shù)的不斷應(yīng)用，伴隨著SMT組裝向標(biāo)準(zhǔn)化和精細(xì)化發(fā)展，AOI檢測(cè)設(shè)備具備寬闊的應(yīng)用前景。AOI檢測(cè)設(shè)備未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備，歡迎來(lái)電咨詢。

AOI檢測(cè)系統(tǒng)的軟件組成結(jié)合光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)采集到的圖像數(shù)據(jù)，AOI檢測(cè)系統(tǒng)的軟件主要包括算法、影像處理軟件和通訊軟件。同樣AOI系統(tǒng)判斷一個(gè)組件是否是合格，也會(huì)設(shè)定一個(gè)規(guī)則，滿足規(guī)則的就合格，不滿足規(guī)則就是不良品。這個(gè)規(guī)則標(biāo)準(zhǔn)建模的方法即是算法，算法是整個(gè)軟件系統(tǒng)的重中之重，也是AOI檢測(cè)廠商的重要競(jìng)爭(zhēng)力。AI成為AOI檢測(cè)技術(shù)進(jìn)一步發(fā)展的關(guān)鍵因素。以AOI檢測(cè)應(yīng)用范圍廣的PCB行業(yè)為例，中低端AOI檢測(cè)設(shè)備的誤判過篩率約為70%，即捕捉到的不良品中其實(shí)有70%的成品是合格的。因此目前PCB廠商多采取人工二次篩選，將實(shí)際合格的PCB板再度送回產(chǎn)線，預(yù)估一臺(tái)AOI檢測(cè)機(jī)常需配置4名人員進(jìn)行二次檢查。伴隨AI技術(shù)的迅速發(fā)展，也給AOI檢測(cè)行業(yè)帶來(lái)了技術(shù)革新的契機(jī)。傳統(tǒng)AOI檢測(cè)與AIAOI辨識(shí)的差異，在于是否可針對(duì)未知瑕疵進(jìn)行判定，傳統(tǒng)AOI檢測(cè)設(shè)備只能以設(shè)定好的參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)為基準(zhǔn)進(jìn)行判斷，也就是邏輯性的思考，需要先定義瑕疵的樣本，再透過樣本進(jìn)行檢測(cè)。但導(dǎo)入訓(xùn)練成熟的AI技術(shù)后，AIAOI檢測(cè)系統(tǒng)能夠自行定義瑕疵范圍，進(jìn)一步有效判別未知的瑕疵圖像，且這個(gè)學(xué)習(xí)的過程是在不斷重復(fù)進(jìn)行積累的。

光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測(cè)物體反射的光線，光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷，轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集，傳輸形成電壓模擬信號(hào)二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同，依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值，灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測(cè)物體的目的光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種，因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝，并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器，電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。而CMOS采用了無(wú)機(jī)半導(dǎo)體加工工藝，每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路，每個(gè)像素都可以被定位，無(wú)需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì)，而且其對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多，價(jià)格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低。但其非常明顯的缺點(diǎn)，作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會(huì)有問題，為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū)，域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片。AOI英文全稱AutomatedOpticalInspection,即自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)。

AOI測(cè)試的主要功能:1.高效率檢測(cè)，不受PCB安裝密度影響。2.面對(duì)不同的檢測(cè)項(xiàng)目，能夠結(jié)合光學(xué)成像處理技術(shù)，有針對(duì)的檢測(cè)方法。3.操作界面簡(jiǎn)潔人性化，輕松易上手。4.能夠顯示實(shí)際的不良圖像，方便操作人員進(jìn)行**終的視覺驗(yàn)證。5.統(tǒng)計(jì)NG數(shù)據(jù)的同時(shí)分析不良原因，實(shí)時(shí)反饋給機(jī)床技術(shù)信息。AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)是實(shí)現(xiàn)工業(yè)自動(dòng)化的一種有效檢測(cè)方法，并逐漸取代傳統(tǒng)的人工目檢，被普遍應(yīng)用于LCD/TFT、晶體管和PCB等工業(yè)過程中。它能夠有效地檢測(cè)安裝質(zhì)量、焊點(diǎn)質(zhì)量等。通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配過程的后段檢測(cè)缺陷并避免將缺陷發(fā)送到**終裝配步驟，降低維修成本，避免報(bào)廢不固定電路板，能夠降低生產(chǎn)企業(yè)的成本的同時(shí)又能保證產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定，提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。視覺檢測(cè)自動(dòng)化設(shè)備主要測(cè)試項(xiàng)目尺寸檢驗(yàn)，缺陷檢測(cè)等。國(guó)內(nèi)AOI檢測(cè)設(shè)備廠家排名

AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)逐漸取代傳統(tǒng)的人工目檢，被普遍應(yīng)用于LCD/TFT、晶體管和PCB等工業(yè)過程中。AOI檢測(cè)設(shè)備未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)

AOI檢測(cè)常見故障有哪些？1、字符檢測(cè)誤報(bào)較多AOI靠識(shí)別元件外形或文字等來(lái)判斷元件是否貼錯(cuò)等，字符檢測(cè)誤報(bào)主要是由于元器件字符印刷及不同生產(chǎn)批次、不同元器件廠家料品字符印刷方式不同以及字符印刷顏色深淺、模糊或者灰塵等引起的誤判，需要用戶不斷的更改完善元件庫(kù)參數(shù)以及減少檢測(cè)關(guān)鍵字符數(shù)量的方法來(lái)減少誤報(bào)的出現(xiàn)。2、存在屏蔽圈遮蔽點(diǎn)、斜角相機(jī)的檢測(cè)盲區(qū)等問題在實(shí)際生產(chǎn)檢測(cè)中，事實(shí)證明合理的PCB布局以及料品的選擇可以減少盲區(qū)的存在。在實(shí)際布局過程中盡量采取合理的布局將極大減少檢測(cè)盲區(qū)的存在，同時(shí)在有遮擋的元件布局中可以考慮將元件旋轉(zhuǎn)90度以改變斜角相機(jī)的照射角度去避免元件引腳遮擋。同時(shí)元器件到PCB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm（0.12”）的工藝邊，并采用片式器件優(yōu)先于圓柱形器件的選型方式。3、多錫、少錫、偏移、歪斜等問題工藝要求標(biāo)準(zhǔn)界定不同容易導(dǎo)致的誤判焊點(diǎn)的形狀和接觸角是焊點(diǎn)反射的根源，焊點(diǎn)的形成依賴于焊盤的尺寸、器件的高度、焊錫的數(shù)量和回流工藝參數(shù)等因素。為了防止焊接反射，應(yīng)當(dāng)避免器件對(duì)稱排列，同時(shí)合理的焊盤設(shè)計(jì)也將極大減少誤判現(xiàn)象的發(fā)生。AOI檢測(cè)設(shè)備未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)

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