自動(dòng)測試設(shè)備的發(fā)展經(jīng)歷了三個(gè)階段。①采用專門使用測試設(shè)備：這種系統(tǒng)比較復(fù)雜，研制工作量大，造價(jià)高，適應(yīng)性差，在改變測試內(nèi)容時(shí)要重新設(shè)計(jì)接口（包括儀器與儀器之間的接口和儀器與計(jì)算機(jī)之間的接口）。專門使用測試設(shè)備只用來進(jìn)行大量重復(fù)性試驗(yàn)、快速測試或復(fù)雜測試，或用于對測試可靠性要求極高、有礙測試人員健康以及測試人員難以接近的測試場所。②采用標(biāo)準(zhǔn)化通用接口母線(GPIB)連接有關(guān)設(shè)備，系統(tǒng)中各組成部分均配標(biāo)準(zhǔn)化接口功能，用統(tǒng)一的無源母線電纜連接起來。不需要自行設(shè)計(jì)接口，可靈活地更改、增刪測試內(nèi)容。在這兩個(gè)階段中，計(jì)算機(jī)主要承擔(dān)系統(tǒng)的控制、計(jì)算和數(shù)據(jù)處理任務(wù)，基本上是模擬人工測試的過程，尚不能充分發(fā)揮計(jì)算機(jī)的功能。③將計(jì)算機(jī)與測試設(shè)備融為一體，用計(jì)算機(jī)軟件代替?zhèn)鹘y(tǒng)設(shè)備中某些硬件的功能，能用計(jì)算機(jī)產(chǎn)生激勵(lì)，完成測試功能，生成測試程序。集成功能測試系統(tǒng)可同時(shí)測試多個(gè)功能。天津功能測試系統(tǒng)哪家好
接口技術(shù)。針對不同電路板的的測試，已出現(xiàn)多種通用接口標(biāo)準(zhǔn)。如商用領(lǐng)域的ARINC，jun工領(lǐng)域的CASS，航空領(lǐng)域的MATE等。在商業(yè)領(lǐng)域大量使用的ARINC接口發(fā)展較快，指令完備，但成本較高，適用于大、中型企業(yè)和機(jī)構(gòu)的使用。電路板測試已經(jīng)向通用化、標(biāo)準(zhǔn)化、開放式、模塊化、系列化的方向發(fā)展，相關(guān)技術(shù)發(fā)展也緊跟世界高新技術(shù)保持同步，充分利用了工業(yè)界多年來所取得的成果，成為跨學(xué)科、跨領(lǐng)域、跨專業(yè)的一門綜合技術(shù)學(xué)科。在線測試，主要進(jìn)行測量控制板的R/L/C等元器件的電氣數(shù)值，以確定有無反插、漏件、錯(cuò)插件等；功能測試，主要檢測主板整體運(yùn)行性能參數(shù)是否達(dá)標(biāo)，各模塊工作是否正常等；只有成功經(jīng)過以上兩步測試的控制板才算是合格產(chǎn)品。電子測試系統(tǒng)專業(yè)技術(shù)服務(wù)各種功能測試系統(tǒng)可滿足不同行業(yè)的功能驗(yàn)證需求。
測試儀主要功能，測試儀采用電路在線測試技術(shù)，可以用來在線或離線測試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見故障，測試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。數(shù)字芯片的功能測試測試的基本原理是檢測并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較，從而判斷被測芯片功能是否正確。數(shù)字芯片的狀態(tài)測試電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。
治具，常規(guī)的治具設(shè)計(jì)，大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測試過程中壓板下壓時(shí)，如果壓板、載板、針板固定不佳，容易產(chǎn)生晃動(dòng)，從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形，進(jìn)行而導(dǎo)致測試針和測試點(diǎn)接觸不良或者位置偏移，使得測試針彎曲變形引起誤測甚至導(dǎo)致UUT裂損。上述情況的發(fā)生，尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時(shí)更容易產(chǎn)生。治具定位原理，根據(jù)電路板的不同, 可采用以下幾種定位方式根據(jù)工件的不同情況。1、以外緣輪廓定位，對于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板，可采用外輪廓定位方式。長邊用定位板，限制2個(gè)自由度；短邊用定位針，限制1個(gè)自由度。在另一短邊，還可以增加1只定位針，形成所謂的約束性過定位。這種方式中，兩根定位柱所限位的尺寸應(yīng)比UUT尺寸略大，在0.3mm～0.5mm即可。雖然由于此間隙的存在，定位精度會(huì)略有降低，但操作方便、制造簡單。2、以“邊/孔”定位，對于面積尺寸較大的電路板，可以采用“邊/孔”定位，這也屬于約束性過定位的一種。定位板限制2個(gè)自由度，定位柱限制2個(gè)自由度。這種形式中，通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些。電源測試：針對電源設(shè)備進(jìn)行嚴(yán)格檢測，保證電源系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。
功能系統(tǒng)測試，元件測試和裝聯(lián)測試注重的是產(chǎn)品的加工質(zhì)量，功能系統(tǒng)測試注重的是PCBA的電氣特性參數(shù)，并關(guān)注這些指標(biāo)是否達(dá)到了相關(guān)的國家標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)規(guī)范的要求，功能系統(tǒng)測試是一類針對整件的綜合性測試，在以產(chǎn)品自行設(shè)計(jì)、加工為主的企業(yè)里應(yīng)用較廣。優(yōu)點(diǎn)：⒈ 基本上不用人管著，如果程序停止運(yùn)行了一般就是被測試程序crash了。⒉ 設(shè)計(jì)完測試?yán)?，下來的工作就是好多了，?dāng)然更苦悶的是確定crash原因。缺點(diǎn)：⒈ 結(jié)果取決于測試?yán)脑O(shè)計(jì)，測試?yán)脑O(shè)計(jì)部分來勢來源于經(jīng)驗(yàn)，OUSPG的東西很值得借鑒。⒉ 沒有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念，一些成功的例子基本上都是針對PDU來做的，還做不到針對被測試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來作。⒊ 就沒有狀態(tài)概念的測試來說，尋找和確定造成程序crash的測試?yán)莻€(gè)麻煩事情，必須把周圍可能的測試?yán)龁为?dú)確認(rèn)一遍。而就有狀態(tài)的測試來說，就更麻煩了，尤其不是一個(gè)單獨(dú)的testcase造成的問題。這些在堆的問題中表現(xiàn)的更為突出。變壓器綜合測試：全方面檢測變壓器性能，確保其穩(wěn)定運(yùn)行。上海電池測試系統(tǒng)測試步驟
通用自動(dòng)功能測試系統(tǒng)適用于多種設(shè)備的功能性驗(yàn)證。天津功能測試系統(tǒng)哪家好
測試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來，存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫中，然后與同類有故障的電路板進(jìn)行比較，從而準(zhǔn)確地找出故障部位。VI特性測試分析該項(xiàng)測試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上，可用于模擬、數(shù)字、專門使用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測試。測試儀通過測試探棒或測試夾自動(dòng)把被測點(diǎn)的特征曲線提取出來，顯示在微機(jī)屏幕上，較后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí)，將實(shí)測到的VI曲線與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行比較，進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障。天津功能測試系統(tǒng)哪家好