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AOI系統(tǒng)集成技術(shù)牽涉到關(guān)鍵器件、系統(tǒng)設(shè)計(jì)、整機(jī)集成、軟件開發(fā)等。AOI系統(tǒng)中必不可少的關(guān)鍵器件有圖像傳感器(相機(jī))、鏡頭、光源、采集與預(yù)處理卡、計(jì)算機(jī)(工控機(jī)、服務(wù)器)等。圖像傳感器常用的是各種型號(hào)的CMOS/CCD相機(jī),圖像傳感器、鏡頭、光源三者組合構(gòu)成了大多數(shù)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中感知單元,器件的選擇與配置需要根據(jù)檢測(cè)要求進(jìn)行合計(jì)設(shè)計(jì)與選型。光源的選擇(顏色、波長(zhǎng)、功率、照明方式等)除了分辨與增強(qiáng)特征外,還需考慮圖像傳感器對(duì)光源光譜的靈敏度范圍。鏡頭的選擇需要考慮視場(chǎng)角、景深、分辨率等光學(xué)參數(shù),鏡頭的光學(xué)分辨率要和圖像傳感器的空間分辨率匹配才能達(dá)到比較好的性價(jià)比。一般情況下,鏡頭的光學(xué)分辨率略高于圖像傳感器的空間分辨率為宜,盡可能采用黑白相機(jī)成像,提高成像分辨能力。圖像傳感器(相機(jī))采用面陣或線陣需根據(jù)具體情況而定,選型時(shí)需要考慮的因素有成像視場(chǎng)、空間分辨率、小曝光時(shí)間、幀率、數(shù)據(jù)帶寬等。 線掃描圖像傳感器的掃描寬度方向只有一個(gè)像素,通過(guò)移動(dòng)來(lái)獲得圖像,所有一般解析度比較好。aoi自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀
愛為視新一代智能插件AOI,采用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、先進(jìn)深度學(xué)習(xí)模型,計(jì)算機(jī)視覺、圖形圖像處理等技術(shù),解決AOI編程復(fù)雜、誤報(bào)多的行業(yè)痛點(diǎn),提供插件爐前錯(cuò)、漏、反、多、歪斜等缺陷檢測(cè)方案。其具有無(wú)需設(shè)置參數(shù)、軟件輔助極速建模、無(wú)需專業(yè)操作人員,支持器件局部檢測(cè)等中心優(yōu)勢(shì);中心優(yōu)勢(shì):一、軟件輔助建模:極速建模,一鍵智能搜索80多種器件;二、無(wú)需設(shè)置參數(shù):1.采用智能算法、自動(dòng)框圖比例高;2.無(wú)需抽色、無(wú)需調(diào)飽和度、色相、無(wú)需調(diào)容忍度、閾值;三、無(wú)需專業(yè)操作人員:1.傻瓜式操作,2.會(huì)操作電腦的產(chǎn)線員工即可使用;四、支持局部檢測(cè):支持器件本體大部分特征相同局部有差異的器件檢測(cè) 江蘇什么是AOI光學(xué)檢測(cè)AOI檢測(cè)不僅是一部檢測(cè)設(shè)備,對(duì)大量不良結(jié)果進(jìn)行分類和統(tǒng)計(jì),可以發(fā)現(xiàn)不良發(fā)生的原因。
對(duì)于運(yùn)動(dòng)物體的檢測(cè),要考慮圖像運(yùn)動(dòng)模糊帶來(lái)的不利影響,準(zhǔn)確計(jì)算導(dǎo)致運(yùn)動(dòng)模糊的小曝光時(shí)間,確定圖像傳感器的型號(hào)。圖像傳感器的曝光時(shí)間應(yīng)小于導(dǎo)致運(yùn)動(dòng)模糊的小曝光時(shí)間,快速曝光選擇全局快門模式為宜,高速情況下不易采用卷簾式曝光模式;為了獲得比較好的信噪比,圖像傳感器的增益盡可能為1,圖像亮度的提升盡可能用光源的能量(功率)來(lái)彌補(bǔ),或者在不影響可用的成像景深情況下,增大鏡頭的孔徑光闌。在系統(tǒng)集成中,被測(cè)件的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設(shè)計(jì),這牽涉到精密機(jī)械設(shè)計(jì)技術(shù),這對(duì)平板顯示、硅片、半導(dǎo)體和MEMS等精密制造與組裝產(chǎn)業(yè)中的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)非常重要。在這些領(lǐng)域,制造過(guò)程通常在超凈間進(jìn)行,要求自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)具有很高的自潔能力,對(duì)系統(tǒng)構(gòu)件的材料選型、氣動(dòng)及自動(dòng)化裝置選型、運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的設(shè)計(jì)與器件選型都有嚴(yán)格要求,不能給生產(chǎn)環(huán)境尤其是被測(cè)工件本身帶來(lái)二次污染。尤其是用于表面缺陷檢測(cè)的AOI系統(tǒng)不能在檢測(cè)過(guò)程中,給被測(cè)件表面帶來(lái)缺陷(如粉塵、劃傷、靜電等)。
關(guān)于元件長(zhǎng)度公差,不同的組件供應(yīng)商、電路板和無(wú)鉛焊料的供應(yīng)商都不可能沒有任何直接的影響。優(yōu)良的AOI程序應(yīng)該能夠應(yīng)付這些這影響。如果這些個(gè)別點(diǎn)的變化可以保持不變,那么就能夠相當(dāng)大地簡(jiǎn)化AOI編程。經(jīng)研究得到的結(jié)論是,由于無(wú)鉛產(chǎn)生的影響,圖形對(duì)照系統(tǒng)無(wú)法得到適合的檢查結(jié)果,這是因?yàn)楹细竦臉悠纷兓?。更加可行的方法是,取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級(jí)。如果在現(xiàn)在使用的工藝中,出現(xiàn)了一個(gè)新的變化,就要增加一個(gè)級(jí)別,來(lái)保證檢查的精確性。所有認(rèn)識(shí)到的和已知的缺陷都儲(chǔ)存起來(lái),他們的類型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和全球數(shù)據(jù)庫(kù)里的檢查程序。我們沒有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來(lái)用于詳細(xì)的檢查。圖像采集器看不清楚或看不到被檢測(cè)物體的特征點(diǎn),那么也就無(wú)法談到準(zhǔn)確的檢出。
適應(yīng)性程序沒有發(fā)現(xiàn)轉(zhuǎn)到無(wú)鉛會(huì)對(duì)焊點(diǎn)質(zhì)量的檢查帶來(lái)什么影響。缺陷看上去還是一樣的。毫無(wú)疑問(wèn),只需要稍微修改一下數(shù)據(jù)庫(kù),就足以排除其他誤報(bào)可能會(huì)帶來(lái)的影響。在元件頂上的內(nèi)容改變時(shí),就需要大量的工作,確定門限值。這些可以納入到標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中。在元件的一端立起來(lái)時(shí),打開其他環(huán)節(jié)的檢測(cè),便可以進(jìn)行可靠的分析。對(duì)于橋接的形成或者元件一端立起來(lái)的普遍看法,證明常常不是那樣。經(jīng)驗(yàn)表明,橋接的形成沒有改變,元件一端立起來(lái)的現(xiàn)像就會(huì)有所減少。轉(zhuǎn)到使用無(wú)鉛焊膏并不需要投資新的系統(tǒng)或者設(shè)備,只要使用的AOI系統(tǒng)配備了靈活的傳感器模塊、照明和軟件,就足以適應(yīng)這些變化了。 采用高分辨率工業(yè)相機(jī)和智能圖像分析,檢測(cè)電子電路板上插件元器件多、錯(cuò)、漏、反等缺陷。上海3dAOI
AOI檢測(cè)的比較大優(yōu)點(diǎn)是節(jié)省人力, 保證了檢測(cè)結(jié)果的穩(wěn)定性,可重復(fù)性,及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良,確保出貨質(zhì)量。aoi自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀
AOI的工作方式與SMT當(dāng)中SPI和印刷機(jī)中使用的視覺系統(tǒng)相同,通常使用設(shè)計(jì)規(guī)則檢查(DRC)和模式識(shí)別。DRC方法根據(jù)一些給定的規(guī)則檢查電路圖形(所有的線應(yīng)該在焊點(diǎn)處結(jié)束,所有的引線應(yīng)該至少,所有的引線應(yīng)該至少,等等)。該方法能從算法上保證待測(cè)電路的正確性,且具有制作簡(jiǎn)單、算法邏輯簡(jiǎn)單、處理速度快、程序編輯量小、數(shù)據(jù)占用空間小等特點(diǎn),因此被很多人采用。但該方法確定邊界的能力較差。圖形識(shí)別方法是將存儲(chǔ)的數(shù)字圖像與實(shí)際圖像進(jìn)行比較。根據(jù)完整的印刷電路板或根據(jù)模型建立的檢驗(yàn)文件進(jìn)行檢驗(yàn),或根據(jù)計(jì)算機(jī)軸輔助設(shè)計(jì)中編制的檢驗(yàn)程序進(jìn)行檢驗(yàn)。其準(zhǔn)確性取決于所采用的發(fā)牌率和檢驗(yàn)程序,一般與電子測(cè)試系統(tǒng)相同,但采集的數(shù)據(jù)量大,對(duì)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)處理要求較高。模式識(shí)別方法利用實(shí)際設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)代替DRC中已建立的設(shè)計(jì)原則,具有明顯的優(yōu)勢(shì)。aoi自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀
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